EN | TR
Bartın Üniversitesi
Bartın Üniversitesi Merkezi Araştırma Laboratuvarı
image/svg+xml
image/svg+xml

Taramalı Elektron Mikroskobu Laboratuvarı

TARAMALI ELEKTRON MİKROSKOBU (SEM)

TESCAN MAIA3 XMU


Çalışma Prensibi: Temel olarak cihaz üç bölümden (elektron tabancası, manyetik lensler ve dedektörler) oluşur. Elektron tabancasından çıkan hızlandırılmış elektronlar manyetik lensler vasıtasıyla odaklanarak numune üzerine gönderilir. Elektron-numune etkileşmesi sonucu saçılan elektronlar çeşitli detektörler vasıtasıyla analiz edilir. 

Bu saçılan elektronların dedekte edilmesiyle malzeme içerisindeki yapıların mikro ve nano mertebesinde görüntüleme analizi yapılabilmektedir. Ayrıca numune içerisinde nitel ve nicel elementel analiz yapılabilmekte olup haritalandırma tekniği ile elementlerin dağılımı izlenebilmekte ve EBSD tekniği kullanılarak faz analizi yapılabilmektedir.
Not: EBSD talep eden araştırmacılar, numune hazırlığını kendileri yapmalıdırlar. 

 MAIA3 XMU

  •          Laboratuvarımızda TESCAN firması tarafından üretilen MAIA3 analitik taramalı elektron mikroskobu kullanılmaktadır. Düşük voltaj değerlerinde bile ultra yüksek çözünürlük sağlamaktadır. Bu sayede, taramalı elektron mikroskobu (SEM) kullanan birçok bilim adamının karşılaştığı yüksek voltajlarda iletken olmayan malzemelerdeki yük birikimi ve hassas numunelere verilen zararlar bertaraf edilmiş olunur. MAIA3 15 kV de 1 nmçözünürlük sağlarken, 1 kV deki çözünürlük performansı ise 1,4 nm dir. Ayrıca, STEM modunda ikincil elektronları kullanarak 30 kV de 0,8 nm çözünürlük sağlamaktadır.

Taramalı Elektron Mikroskobu cihazı deney istek formunu indirmek için tıklayınız.

Taramalı Elektron Mikroskopu (SEM) cihazı ile yüksek büyütmelerde yüzey görüntüsü alabilmenin yanında malzemenin kimyasal kompozisyonu hakkında da bilgi edinilebilmektedir. 
SIK SORULAN SORULAR
- Taramalı Elektron Mikroskobu ne işe yarar?

Taramalı Elektron Mikroskobu'nde temel amaç yüksek büyütmelerde yüzey görüntüsü almaktır. Bununla birlikte çeşitli kimyasal analizler de yapılabilir.

- Diğer karakterizasyon tekniklerine göre avantajları nelerdir?

Analiz sonucunda gerçek yüzey görüntüsü elde edildiği için diğer analiz yöntemlerine göre daha kabul edilir sonuçlar alınmaktadır. Ayrıca incelenecek numune miktarı çok az olsa dahi (hatta gözle görülemeyecek kadar az. örn: polenler) SEM cihazında görüntü analizi gerçekleştirilebilmektedir. 

- Diğer karakterizasyon tekniklerine göre dezavantajları nelerdir?

Cihazımız neme karşı hassas olduğu için nem içerek örneklerde inceleme yapılmamaktadır. Ayrıca yalıtkan malzemeler incelenmeden önce iletken hale geçebilmesi için Au/Pd karışımı ile ~10nm kalınlığında kaplama işlemine maruz bırakılmaktadır. 

-Analiz için nasıl bir numune göndermeliyim?

Öncelikle göndereceğiniz numune nem içermemeli, tamamı kuru olmalıdır. Toz numuneler için ağırlık cinsinden bir alt sınır bulunmamaktadır. Fakat bulk malzemelerde en çok 300 g ağırlıktaki örnekler incelenebilmektedir. Bulk numuneler boyut olarak santimetre cinsinden en fazla 10x10x5(yükseklik) ölçülerinde olmalıdır. Çoklu toz numune gönderimlerinde kullanacağınız kapların kapaklarının sıkı kapalı olduğundan emin olunmalı, tozların birbirine karışması önlenmelidir.  

-Taramalı Elektron Mikroskobu ile numunemin içeriğinde hangi elemenlerden olduğunu öğrenebilir miyim?

SEM cihazımızda EDS dedektörü ile kimyasal analiz işlemi yapılabilmektedir. Dolayısıyla malzeme içerisinde yüzde kaç hangi elementten var olduğu hızlı bir şekilde öğrenilebilmektedir.